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Hochgeschwindigkeits-Interface-Tests

Das Setup ist so konzipiert, dass es in hohem Maße konfigurierbar ist. Die Hochgeschwindigkeitssignale werden von Breitbandsteckverbindern zu den auf der Leiterplatte montierten Twinning-Steckverbindern neben dem DUT geleitet. Diese Steckverbinder können sich entweder auf der Ober- oder auf der Unterseite des Twinning-DUT Boards befinden, um eine optimale Signalintegrität zu gewährleisten. Die Anordnung der Anschlüsse auf der Oberseite der DUT-Platine ermöglicht den direkten Anschluss an Gerätesignale, ohne dass ein Routing über Durchkontaktierungen erforderlich ist. Bei Waferprobeanwendungen wird der Probenadelkopf immer auf der Oberseite des Loadboards installiert, wobei die Hochfrequenzsignalleitungen auf der Platinenunterseite geführt werden. Durch die Verlagerung der Anschlüsse nach unten bleibt die Probenadelaufnahme die einzige Komponente auf der Platinenoberseite die hervorragt, was in einer Wafer-Test-Umgebung erforderlich ist.
Ein weiterer Aspekt dieses Lösungssatzes ist die Art und Weise, wie Signalverteiler und Gleichspannungsaufschaltungen konfiguriert werden können. Obwohl diese Schaltungen sehr breitbandige Komponenten aufweisen, verursachen sie immer eine gewisse Signaldämpfung und -verzerrung. Einige Anwender ziehen es vor, den Signalhub und die Integrität des Signals zu maximieren, indem sie diese Schaltungen nicht in den Pfad einbeziehen. Andere Anwender haben eine große Amplitude und möchten die zusätzliche Testbarkeit, die diese Komponenten bieten, nutzen, um DC-Tests durchzuführen und/oder ein niederfrequentes Abtastsignal durch ihr Interface zu leiten. Die Flexibilität dieses Ansatzes unterstützt beide Lösungen und ermöglicht es dem Nutzer, je nach Anwendungsfall zu wechseln.

Mehrere Instrumente erweitern die Möglichkeiten

MultiLane verfügt derzeit über drei steckbare Instrumente, die mit dem V93000 und dem HSIO-Card Cage kombiniert werden können. Eines der Module liefert eine vierstufige Pulsamplitudenmodulation (PAM4) mit 58 Gbps, während das zweite die doppelte Frequenz bei 112 Gbps – der „neuen normalen“ Datenrate – bereitstellt. Beim dritten Modul handelt es sich um ein Vier-Kanal-Oszilloskop mit 50 GHz Bandbreite, das zu weitaus geringeren Kosten als ein Standalone-Oszilloskop in die Lösung integriert ist und über gleiche Fähigkeiten verfügt.
Um sicherzustellen, dass die Plattformlösung den Kundenanforderungen und der erweiterten Roadmap gerecht wird, ist die MultiLane-Software und das benötigte Toolset eng in die V93000 Testersoftware integriert. Augendiagramme und Scope-Plots können mit den Standard-SmarTest-Tools der V93000 dargestellt werden (siehe Beispiele in Abbildung 3). Das Oszilloskop kann auch Ergebnisse im Frequenzbereich analysieren, um Signalverzerrungen zu visualisieren, wie sie typischerweise mit einem Vektor-Netzwerkanalysator (VNA) gemessen werden.

Abbildung 3a: BERT-Augendiagramm auf dem V93000.
Abbildung 3b: MultiLane DSO-Messungen auf dem V93000.